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GB/T 20726-2025 现行
GB/T 20726-2025 Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers(EDS)for use with a scanning electron microscope (SEM)or an electron probe microanalyser(EPMA)
简介
本文件规定了以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪最重要的特性参数。
本文件仅适用于使用基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。
本文件规定了与扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)联用的此类能谱仪性能参数的最低要求及核查方法。用于能谱分析的程序,已由ISO 22309[2]和ASTM E1508[3]规范,不在本文件范围之内。
通用商品信息
| 委员会 | 全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 20726-2025 |
| CCS | 电子光学与其他物理光学仪器 |
| ICS | 有关分析化学的其他标准 |
| 实施日期 | 2026-03-01 |
价格
$ 66
小计
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税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 66