MT/T 707-1997
现行
GB/T 20726-2025
现行
国家标准
GB/T 20726-2025 微束分析 扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)用X射线能谱仪(EDS)主要性能参数及核查方法
GB/T 20726-2025 Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy-dispersive X-ray spectrometers(EDS)for use with a scanning electron microscope (SEM)or an electron probe microanalyser(EPMA)
基本信息
标准编号:
GB/T 20726-2025
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电子光学与其他物理光学仪器
国际标准分类名称:
有关分析化学的其他标准
发布日期:
2025-08-29
实施日期:
2026-03-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
页数:
20 页
适用范围
本文件规定了以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪最重要的特性参数。
本文件仅适用于使用基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。
本文件规定了与扫描电子显微镜(SEM)或电子探针显微分析仪(EPMA)联用的此类能谱仪性能参数的最低要求及核查方法。用于能谱分析的程序,已由ISO 22309[2]和ASTM E1508[3]规范,不在本文件范围之内。
研制信息
起草单位:
中国科学院地质与地球物理研究所、核工业北京地质研究院、中国科学院化学研究所
起草人:
毛骞、范光、王岩华、曾荣树、原江燕
替代以下标准
引用标准
ISO 22493
ISO 23833
采用标准
ISO 15623:2021