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GB/T 5201-2012 现行
GB/T 5201-2012 Test procedures for semiconductor charged particle detectors
简介
本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。
本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。
全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。
通用商品信息
| 委员会 | 全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC 30) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 5201-2012 |
| CCS | 核探测器 |
| ICS | 核能工程 |
| 实施日期 | 2012-11-01 |
价格
$ 66
小计
$ 66
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 66