GB/T 5201-2012 现行 国家标准

GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法

GB/T 5201-2012 Test procedures for semiconductor charged particle detectors

发布日期: 2012-06-29 实施日期: 2012-11-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 5201-2012
标准类型: 国家级标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 核探测器
国际标准分类名称: 核能工程
发布日期: 2012-06-29
实施日期: 2012-11-01
发布单位/组织: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位: 全国核仪器仪表标准化技术委员会(SAC/TC 30)
页数: 15 页

适用范围

本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。
本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。
全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。

研制信息

起草单位:

中核(北京)核仪器厂

起草人:

李志勇、王军

字数: 26 千字 页数: 15 页

替代以下标准

引用标准

采用标准

IEC 60333:1993

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