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GB/T 1554-1995
GB/T 1554-1995 Test method for crystallographic perfection of silicon by preferential etch techniques
通用商品信息
| 文献类型 | 国家标准 |
|---|---|
| 发布单位 | 国家技术监督局 |
| 标准状态 | 被代替 |
| 标准编号 | GB/T 1554-1995 |
| CCS | 金属无损检验方法 |
| ICS | 综合、术语学、标准化、文献 |
| 实施日期 | 1995-12-01 |
价格
$ 50
小计
$ 50
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 50