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GB/T 4060-2007
GB/T 4060-2007 Polycrystalline silicon—Examination method—Vacuum zone-melting on boron
简介
本标准适用于多晶硅沉积在硅芯上生长的多晶硅棒基硼的检验。 本标准检测杂质浓度有效范围：0.002×10-9～100×10-9。
通用商品信息
| 委员会 | 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会 |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 被代替 |
| 标准编号 | GB/T 4060-2007 |
| CCS | 半金属及半导体材料分析方法 |
| ICS | 金属材料试验综合 |
| 实施日期 | 2008-02-01 |
价格
$ 36
小计
$ 36
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 36