DZ/T 0101.12-1994
现行
SJ 3242-1989
现行
行业标准-电子
SJ 3242-1989 砷化镓外延片
SJ 3242-1989 Gallium arsenide epitaxy wafers
价格:
$ 30
基本信息
标准编号:
SJ 3242-1989
标准类型:
行业标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电子设备与专用材料、零件、结构件
国际标准分类名称:
-
发布日期:
1989-03-20
实施日期:
1989-03-25
页数:
11 页
研制信息
起草单位:
机械电子工业部46所
起草人:
汝琼娜、李光平、何秀坤、王琴、谢重木
引用标准
GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 2828.2-2008 计数抽样检验程序 第2部分：按极限质量(LQ)检索的孤立批检验抽样方案
GB/T 2828.3-2008 计数抽样检验程序 第3部分：跳批抽样程序
GB/T 2828.4-2008 计数抽样检验程序 第4部分：声称质量水平的评定程序
GB/T 2828.5-2011 计数抽样检验程序 第5部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批序贯抽样检验系统
GB/T 2828.10-2010 计数抽样检验程序 第10部分：GB/T 2828计数抽样检验系列标准导则
GB/T 2828.11-2008 计数抽样检验程序 第11部分：小总体声称质量水平的评定程序
GB/T 6624-1995 硅抛光片表面质量目测检验方法
GB/T 6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法
SJ 3244.1
SJ 3244.3
SJ 3244.4
SJ 3247