GB/T 14264-1993
被代替
T/CIE 119-2021
现行
团体标准
T/CIE 119-2021 半导体器件大气中子单粒子效应试验方法与程序
T/CIE 119-2021 Test method and procedure of atmospheric-neutron induced single event effects in semiconductor devices
价格:
$ 26.00
基本信息
标准编号:
T/CIE 119-2021
标准类型:
团体标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2021-11-22
实施日期:
2022-02-01
发布单位/组织:
中国电子学会
归口单位:
中国电子学会可靠性分会
页数:
16 页
适用范围
本文件确立了使用散裂中子源对半导体器件进行大气中子单粒子效应加速试验的方法与程序。
本文件适用于航空、地面等应用环境中半导体集成电路和半导体分立器件的中子单粒子效应敏感性检测试验。该环境下的中子来源于初始高能宇宙射线与大气的相互作用，主要为热中子和能量高于1 MeV的高能中子。
本文件适用的单粒子效应包括大气中子在半导体器件中引起的单粒子翻转、单粒子瞬态、单粒子功能中断、单粒子锁定、单粒子烧毁、单粒子栅穿等。
本文件不适用于α粒子引起的单粒子效应。
研制信息
起草单位:
工业和信息化部电子第五研究所、中国民用航空适航审定中心、散裂中子源科学中心、西北核技术研究院、中国航发商用航空发动机有限责任公司、中国航空综合技术研究所
起草人:
张战刚、雷志锋、黄云、郭雁泽、于全芝、梁天骄、郭红霞、赵振可、王春晓、陈宇、何玉娟、彭超、肖庆中