MT/T 707-1997
现行
GB/T 20724-2006
被代替
国家标准
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 20724-2006 Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
基本信息
标准编号:
GB/T 20724-2006
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电化学、热化学、光学式分析仪器
国际标准分类名称:
有关分析化学的其他标准
发布日期:
2006-12-25
实施日期:
2007-08-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国微束分析标准化技术委员会
页数:
6 页
适用范围
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10－9 m～0.1×10-3 m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
研制信息
起草单位:
北京科技大学
起草人:
柳得橹