GB/T 18680-2002 现行国家标准

GB/T 18680-2002 液晶显示器用氧化铟锡透明导电玻璃

GB/T 18680-2002 The transparent conductive glass with indium-tin oxide films used in liquid crystal display

发布日期: 2002-03-10 实施日期: 2002-08-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务，请联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 18680-2002

标准类型: 国家级标准

标准状态: 现行

is_force_gb: no

中国标准分类名称: 其他

国际标准分类名称: 电子显示器件

发布日期: 2002-03-10

实施日期: 2002-08-01

发布单位/组织: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局

归口单位: 全国金属与非金属覆盖层标准化技术委员会

页数: 16 页

研制信息

起草单位:

广州有色金属研究院

起草人:

袁镇海、戴达煌、赵小伟、王志洁、付志强、黄绍江、侯惠君、林松盛

字数: 19 千字 页数: 16 页

引用标准

GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划 GB/T 2828.2-2008 计数抽样检验程序第2部分：按极限质量(LQ)检索的孤立批检验抽样方案 GB/T 2828.3-2008 计数抽样检验程序第3部分：跳批抽样程序 GB/T 2828.4-2008 计数抽样检验程序第4部分：声称质量水平的评定程序 GB/T 2828.5-2011 计数抽样检验程序第5部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批序贯抽样检验系统 GB/T 2828.10-2010 计数抽样检验程序第10部分：GB/T 2828计数抽样检验系列标准导则 GB/T 2828.11-2008 计数抽样检验程序第11部分：小总体声称质量水平的评定程序 GB/T 5270-2005 金属基体上的金属覆盖层电沉积和化学沉积层附着强度试验方法评述 GB/T 5270-2024 金属基体上的金属覆盖层电沉积和化学沉积层附着强度试验方法评述 GB/T 14264-1993 半导体材料术语 GB/T 14264-2009 半导体材料术语 GB/T 14264-2024 半导体材料术语

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