GB/T 4855-1984
废止
GB/T 17574.10-2003
现行
国家标准
GB/T 17574.10-2003 半导体器件 集成电路 第2-10部分：数字集成电路集成电路动态 读/写存储器空白详细规范
GB/T 17574.10-2003 Semiconductor devices-Integrated circuits—Part 2-10:Digital integrated circuits-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories
基本信息
标准编号:
GB/T 17574.10-2003
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2003-11-24
实施日期:
2004-08-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位:
中国电子技术标准化研究所（CESI）
页数:
20 页
研制信息
起草单位:
中国电子技术标准化研究所（CESI）
起草人:
王琪、李燕荣
引用标准
GB/T 4728.12-1996 电气简图用图形符号 第12部分：二进制逻辑元件
GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路
IEC 60069-2-17:1978
IEC 60134:1961
IEC 60747-10:1991/QC700000
IEC 0748-11:1990/QC790100
采用标准
IEC 60748-2-10:1994