DB52/T 1104-2016 废止贵州省地方标准

DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法

DB52/T 1104-2016 Semiconductor device junction-cage thermal resistance transient testing method

发布日期: 2016-04-01 实施日期: 2016-10-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务，请联系我们

标准编号: DB52/T 1104-2016

标准类型: 地方标准

标准状态: 废止

is_force_gb: no

中国标准分类名称: 半导体分立器件

国际标准分类名称: 半导体器分立件综合

发布日期: 2016-04-01

实施日期: 2016-10-01

发布单位/组织: 贵州省质量技术监督局