SJ/T 11767-2020 现行 行业标准-电子

SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11767-2020 SJ/T 11767-2020 Diode Low Frequency Noise Parameter Test Method

发布日期: 2020-12-09 实施日期: 2021-04-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们
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基本信息

标准编号: SJ/T 11767-2020
标准类型: 行业标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 半导体二极管
国际标准分类名称: 半导体器分立件综合
发布日期: 2020-12-09
实施日期: 2021-04-01
发布单位/组织: 工业和信息化部
归口单位: 基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组

适用范围

适用于二极管1 Hz~300 kHz 频率范围内的噪声参数的测试

研制信息

起草单位:

工业和信息化部电子第五研究所、西安电子科技大学、重庆赛宝工业技术研究院等

起草人:

余永涛、胡为、恩云飞 等

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