GB/T 3143-1982
现行
GB/T 34002-2017
现行
国家标准
GB/T 34002-2017 微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法
GB/T 34002-2017 Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures
基本信息
标准编号:
GB/T 34002-2017
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
基础标准与通用方法
国际标准分类名称:
化学分析
发布日期:
2017-07-12
实施日期:
2018-06-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
页数:
37 页
适用范围
本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。
本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的 TEM图像的放大倍率。本标准也可用于校准标尺，但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜（CD-TEM）和扫描透射电镜（STEM）。
研制信息
起草单位:
北京科技大学
起草人:
柳得橹、郜欣、权茂华
引用标准
GB/T 27025-2008 检测和校准实验室能力的通用要求
ISO Guide 30:1992
ISO Guide 34:2000
ISO Guide 35:2006
ISO/IEC Guide 98-3:2008
ISO 5725-1:1994
采用标准
ISO 29301:2010