DB13/T 5695-2023 现行河北省地方标准

DB13/T 5695-2023 GaN HEMT 射频器件陷阱效应测试方法

DB13/T 5695-2023 The testing method for trap effect of GaN HEMT RF device

发布日期: 2023-05-06 实施日期: 2023-06-06 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务，请联系我们

基本信息

标准编号: DB13/T 5695-2023

标准类型: 地方标准

标准状态: 现行

is_force_gb: no

中国标准分类名称: 半导体分立器件

国际标准分类名称: 半导体分立器件

发布日期: 2023-05-06

实施日期: 2023-06-06

发布单位/组织: 河北省市场监督管理局

页数: 12 页

研制信息

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页数: 12 页

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