SJ 2214.6-1982 废止行业标准-电子

SJ 2214.6-1982 半导体光敏三极管集电极－发射极反向击穿电压的测试方法

SJ 2214.6-1982 Method of measurement for collector-emitter reverse breakdown voltage of semiconductor phototransistors

发布日期: 1982-11-30 实施日期: 1983-07-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务，请联系我们

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基本信息

标准编号: SJ 2214.6-1982

标准类型: 行业标准

标准状态: 废止

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中国标准分类名称: 半导体光敏器件

国际标准分类名称: -

发布日期: 1982-11-30

实施日期: 1983-07-01

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研制信息

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