SJ 2214.8-1982 废止 行业标准-电子

SJ 2214.8-1982 半导体光敏三极管暗电流的测试方法

SJ 2214.8-1982 Method of measurement for dark current voltage of semiconductor phototransistors

发布日期: 1982-11-30 实施日期: 1983-07-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们
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基本信息

标准编号: SJ 2214.8-1982
标准类型: 行业标准
标准状态: 废止
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 半导体光敏器件
国际标准分类名称: -
发布日期: 1982-11-30
实施日期: 1983-07-01
页数: 1 页

研制信息

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