YS/T 1755-2025 现行行业标准-有色金属

YS/T 1755-2025 颗粒硅总金属杂质含量的测定电感耦合等离子体质谱法

YS/T 1755-2025 Determination of Total Metal Impurity Content in Granular Silicon by Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (ICP-MS)

发布日期: 2025-04-10 实施日期: 2025-11-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务，请联系我们

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标准编号: YS/T 1755-2025

标准类型: 行业标准

标准状态: 现行

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中国标准分类名称: 半金属及半导体材料分析方法

国际标准分类名称: 金属材料试验

发布日期: 2025-04-10

实施日期: 2025-11-01

发布单位/组织: 工业和信息化部

适用于流化床法颗粒硅总金属，如铁、铬、镍、铜、钠、镁、铝、钾、钙、锌、钛、钼、钨、钴含量的测定，各元素检测范围为0.05ng/g～50ng/g。