GB/T 4855-1984
废止
GB/T 42969-2023
现行
国家标准
GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法
GB/T 42969-2023 Displacement damage test method for components
基本信息
标准编号:
GB/T 42969-2023
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2023-09-07
实施日期:
2024-01-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
9 页
适用范围
本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
研制信息
起草单位:
中国空间技术研究院、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、西北核技术研究院、中国电子科技集团公司第四十四研究所、中国科学院新疆理化技术研究所、扬州大学
起草人:
罗磊、于庆奎、唐民、朱恒静、张洪伟、郑春、陈伟、丁李利、汪朝敏、李豫东、文林、薛玉雄