GB/T 4855-1984
废止
GB/T 43035-2023
现行
国家标准
GB/T 43035-2023 半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
GB/T 43035-2023 Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20:Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1:Requirements for internal visual examination
基本信息
标准编号:
GB/T 43035-2023
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
膜集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2023-09-07
实施日期:
2023-09-07
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
23 页
适用范围
本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路（FICs和HFICs，以下简称器件）内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院
起草人:
王婷婷、吕红杰、冯玲玲、王琪、李林森、雷剑、张亚娟
采用标准
IEC 60748-20-1:1994