GB/T 1663-2001
现行
GB/T 43087-2023
现行
国家标准
GB/T 43087-2023 微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法
GB/T 43087-2023 Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
基本信息
标准编号:
GB/T 43087-2023
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电子光学与其他物理光学仪器
国际标准分类名称:
物理化学分析方法
发布日期:
2023-09-07
实施日期:
2024-04-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
页数:
42 页
适用范围
本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。
研制信息
起草单位:
北京科技大学
起草人:
权茂华、柳得橹
采用标准
ISO 20263:2017
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