LY/T 1662.1-2008
现行
GB/T 43226-2023
现行
国家标准
GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
GB/T 43226-2023 Time-domain test methods for space single event soft errors of semiconductor integrated circuit
基本信息
标准编号:
GB/T 43226-2023
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
电子元器件
国际标准分类名称:
航天系统和操作装置
发布日期:
2023-09-07
实施日期:
2024-01-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)
页数:
8 页
适用范围
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。
研制信息
起草单位:
北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院
起草人:
赵元富、陈雷、王亮、岳素格、郑宏超、李哲、林建京、李永峰、陈淼、王汉宁