GB/T 4855-1984
废止
T/CIE 133-2022
现行
团体标准
T/CIE 133-2022 磁随机存储器件数据保持时间测试方法
T/CIE 133-2022 Test method for data retention time of magnetic random access memory device
价格:
$ 22.00
基本信息
标准编号:
T/CIE 133-2022
标准类型:
团体标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2022-08-10
实施日期:
2022-08-10
发布单位/组织:
中国电子学会
归口单位:
中国电子学会
页数:
16 页
适用范围
本文件规定了磁随机存储器件数据保持时间测试方法的测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本文件适用于磁随机存储器件的数据保持时间测试和磁随机存储器件的数据保持时间验证。
研制信息
起草单位:
北京航空航天大学、致真存储(北京)科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、合肥致真精密设备有限公司
起草人:
赵巍胜、彭守仲、芦家琪、李伟祥、李月婷、雷娜、曹凯华、王昭昊、聂天晓、张博宇、刘佳豪、刘照春、王戈飞、刘宏喜、赵桂林、帅喆、孙杰杰、王超、卢辉、王亮、郑宏超、陆时进、李鑫云、曹安妮、郭玮、何帆、程厚义、杜寅昌