T/IAWBS 022-2024 现行 团体标准

T/IAWBS 022-2024 SiC MOSFET阈值电压测试方法——电流源单点测试法

T/IAWBS 022-2024 SiC MOSFET threshold voltage testing method - Current source single point testing method

发布日期: 2024-12-23 实施日期: 2024-12-30 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们
价格: $ 20.00
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基本信息

标准编号: T/IAWBS 022-2024
标准类型: 团体标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 半导体分立器件
国际标准分类名称: 三极管
发布日期: 2024-12-23
实施日期: 2024-12-30
归口单位: 中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟

适用范围

主要技术内容:本文件规定了碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)阈值电压测试方法。本文件适用于SiC MOSFET阈值电压的测量,包含测试原理,测试电路以及测试条件

研制信息

起草单位:

瑶芯微电子(上海)有限公司、西安电子科技大学、电子科技大学、厦门大学、株洲中车时代半导体有限公司、安徽工程大学

起草人:

顾晓健、贾仁需、王贵豹、陈开宇、邓小川、张峰、李诚瞻、钮应喜、林信南

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