GB/T 15475-1995
被代替
T/CNS 81-2022
现行
团体标准
T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
T/CNS 81-2022 Charge-coupled device proton-induced damage effect simulation test method
价格:
$ 20.00
基本信息
标准编号:
T/CNS 81-2022
标准类型:
团体标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
能源、核技术
国际标准分类名称:
核能综合
发布日期:
2022-12-16
实施日期:
2023-04-01
归口单位:
中国核学会
页数:
16 页
适用范围
范围:本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验; 主要技术内容:本文件描述了采用质子对电荷耦合器件（CCD）进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序
研制信息
起草单位:
中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团公司第五研究院物资部
起草人:
文林、李豫东、郭旗、周东、何承发、张兴尧、于新、冯婕、王信、张丹、崔帅、李鹏伟