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T/CNS 81-2022 现行
T/CNS 81-2022 电荷耦合器件质子位移损伤效应模拟试验方法
简介
范围:本文件适用于宇航用CCD位移损伤效应辐照试验; 主要技术内容:本文件描述了采用质子对电荷耦合器件（CCD）进行位移损伤效应辐照试验的一般要求、试验方法和程序
通用商品信息
| 委员会 | 中国核学会 |
|---|---|
| 文献类型 | 团体标准 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | T/CNS 81-2022 |
| CCS | 能源、核技术 |
| ICS | 核能综合 |
| 实施日期 | 2023-04-01 |
价格
$ 20.00
小计
$ 20.00
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 20.00