GB/T 18501.2-2001 现行 国家标准

GB/T 18501.2-2001 直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器 第2部分:有质量评定的圆形连接器分规范

GB/T 18501.2-2001 Connectors for use in d.c.,low-frequency analogue and digital high speed data applications—Part 2:Circular connectors with assessed quality—Sectional specification

发布日期: 2001-11-05 实施日期: 2002-05-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 18501.2-2001
标准类型: 国家级标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 连接器
国际标准分类名称: 插头和插座装置、连接器
发布日期: 2001-11-05
实施日期: 2002-05-01
发布单位/组织: 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
归口单位: 全国电子设备用机电元件标准化技术委员会
页数: 20 页

研制信息

起草单位:

中国电子技术标准化研究所

起草人:

陈奥、吴正平、汪其龙

字数: 37 千字 页数: 20 页

同系列标准

引用标准

GB/T 18290.2-2000 无焊连接 第2部分:无焊压接连接 一般要求、试验方法和使用导则 GB/T 18290.3-2000 无焊连接 第3部分:可接触无焊绝缘位移连接 一般要求、试验方法和使用导则 GB/T 18290.4-2000 无焊连接 第4部分:不可接触无焊绝缘位移连接 一般要求、试验方法和使用导则 GB/T 18290.5-2000 无焊连接 第5部分:无焊压入式连接 一般要求、试验方法和使用导则 GB/T 18501.1-2001 有质量评定的直流和低频模拟及数字式高速数据处理设备用连接器 第1部分:总规范 IEC 60352-1:1997 GB/T 5095.1-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第1部分:总则 GB/T 5095.2-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第2部分:一般检查、电连续性和接触电阻测试、绝缘试验和电压应力试验 GB/T 5095.3-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第3部分:载流容量试验 GB/T 5095.4-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第4部分:动态应力试验 GB/T 5095.5-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第5部分:撞击试验(自由元件)、静负荷试验(固定元件)、寿命试验和过负荷试验 GB/T 5095.6-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第6部分:气候试验和锡焊试验 GB/T 5095.7-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第7部分:机械操作试验和密封性试验 GB/T 5095.8-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第8部分:连接器、接触件及引出端的机械试验 GB/T 5095.9-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第9部分:杂项试验 GB/T 5095.11-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第11部分:气候试验 GB/T 5095.12-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第12部分:锡焊试验 第六篇:试验12f 在机器焊接中封焊处耐焊剂和清洁剂 GB/T 5095.15-1997 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第15部分:接触件和引出端的机械试验 第八篇:试验15h接触件固定机构耐工具使用性 GB/T 5095.2303-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-3部分:屏蔽和滤波试验 试验23c:连接器和附件的屏蔽效果 线注入法 GB/T 5095.2304-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-4部分:屏蔽和滤波试验 试验23d:时域内传输线的反射 GB/T 5095.2307-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第23-7部分:屏蔽和滤波试验 试验23g:连接器的有效转移阻抗 GB/T 5095.2501-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-1部分:试验25a:串扰比 GB/T 5095.2502-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-2部分:试验25b:衰减(插入损耗) GB/T 5095.2503-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-3部分:试验25c:上升时间衰减 GB/T 5095.2504-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-4部分:试验25d:传输时延 GB/T 5095.2505-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-5部分:试验25e:回波损耗 GB/T 5095.2506-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-6部分:试验25f:眼图和抖动 GB/T 5095.2507-2021 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-7部分:试验25g:阻抗、反射系数和电压驻波比(VSWR) GB/T 5095.2509-2020 电子设备用机电元件 基本试验规程及测量方法 第25-9部分:信号完整性试验 试验25i:外来串扰

采用标准

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