GB/T 4855-1984
废止
GB/T 35007-2018
现行
国家标准
GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法
GB/T 35007-2018 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of low voltage differential signaling circuitry
基本信息
标准编号:
GB/T 35007-2018
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2018-03-15
实施日期:
2018-08-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
36 页
适用范围
本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号（LVDS，low voltage differential signaling）电路（以下称为“器件”）静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。
研制信息
起草单位:
成都振芯科技股份有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市国微电子有限公司、深圳市众志联合电子有限公司、中国电子科技集团公司第二十九研究所
起草人:
陈雁、罗彬、郭超、王会影、李锟、蔡志刚、邬海忠、钟科