GB/T 4855-1984
废止
GB/T 44937.4-2024
现行
国家标准
GB/T 44937.4-2024 集成电路 电磁发射测量 第4部分：传导发射测量1 Ω/150 Ω直接耦合法
GB/T 44937.4-2024 Integrated circuits—Measurement of electromagnetic emissions—Part 4:Measurement of conducted emissions—1 Ω/150 Ω direct coupling method
基本信息
标准编号:
GB/T 44937.4-2024
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2024-12-31
实施日期:
2024-12-31
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC 599)
页数:
40 页
适用范围
本文件规定了直接用1 Ω阻性探头测量射频(RF)电流和150 Ω耦合网络测量RF电压以测量集成电路(IC)传导电磁发射(EME)的方法。这些方法可确保EME测量具有高度的可重复性和相关性。
研制信息
起草单位:
中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、南京容测检测技术有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、北京无线电计量测试研究所、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国科学院微电子研究所、安徽省计量科学研究院、苏州泰思特电子科技有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、江苏省计量科学研究院、扬芯科技(深圳)有限公司、南京师范大学、东南大学、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、广州致远电子有限公司
起草人:
崔强、付君、乔彦彬、方文啸、吴建飞、邢立文、朱赛、刘星汛、李腾飞、李彬鸿、王少启、谢玉章、胡小军、黄雪梅、邵鄂、李楠、周雷、杨红波、颜伟、周香、刘洋、陈勇志、张红丽
引用标准
IEC 61000-4-6
IEC 61967-1
采用标准
IEC 61967-4:2021