GB/T 3143-1982
现行
GB/T 25184-2010
现行
国家标准
GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法
GB/T 25184-2010 Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
基本信息
标准编号:
GB/T 25184-2010
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
基础标准与通用方法
国际标准分类名称:
化学分析
发布日期:
2010-09-26
实施日期:
2011-08-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会
页数:
25 页
适用范围
本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线，且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
研制信息
起草单位:
福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室
起草人:
王水菊、时海燕、丁训民
引用标准
GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
GB/T 22461-2008 表面化学分析 词汇
GB/T 20175-2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
GB/T 22571-2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准
GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告
ISO 15470:1999
ISO 18116
ISO 18118:2004
ISO 18516:2006
ISO 19319
ISO 24237