DZ/T 0101.12-1994
现行
SJ 21347-2018
现行
行业标准-电子
SJ 21347-2018 低温器件与组件极低温度筛选试验方法
SJ 21347-2018 Cryogenic screening test method for cryogenic device and assembly
价格:
$ 30
基本信息
标准编号:
SJ 21347-2018
标准类型:
行业标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
-
国际标准分类名称:
-
发布日期:
2018-01-18
实施日期:
2018-05-01
归口单位:
工业和信息化部电子第四研究院
页数:
10 页
适用范围
本标准规定了低温器件与组件极低温度筛选试验方法的一般要求和详细要求。本标准适用于低温器件与组件的极低温度筛选试验方法
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十六研究所
起草人:
纪斌、徐友平、贾黎、杨海明、张永清
引用标准
GJB 360B-2009
GJB 451A-2005