GB/T 5295-1985
被代替
GB/T 36613-2018
现行
国家标准
GB/T 36613-2018 发光二极管芯片点测方法
GB/T 36613-2018 Probe test method for light emitting diode chips
基本信息
标准编号:
GB/T 36613-2018
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
微波、毫米波二、三极管
国际标准分类名称:
光电子学、激光设备
发布日期:
2018-09-17
实施日期:
2019-01-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
中华人民共和国工业和信息化部(电子)
页数:
10 页
适用范围
本标准规定了发光二极管芯片(以下简称“芯片”)光参数、直流电参数以及静电放电敏感性的点测条件和点测方法。本标准适用于批量生产的可见光发光二极管正装芯片和薄膜芯片的检测方法。紫外光、红外光发光二极管芯片以及外延片的点测也可参照使用。本标准不适用于发光二极管芯片的热参数和交流特性测试。
研制信息
起草单位:
三安光电股份有限公司、厦门市三安光电科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、广州赛西标准检测研究院有限公司
起草人:
蔡伟智、梁奋、刘秀娟、李国煌、吕艳、金威、邵晓娟、周钢、时军朋