GB/T 36655-2018 现行 国家标准

GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

GB/T 36655-2018 Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method

发布日期: 2018-09-17 实施日期: 2019-01-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务,请 联系我们

基本信息

标准编号: GB/T 36655-2018
标准类型: 国家级标准
标准状态: 现行
is_force_gb: no
中国标准分类名称: 电子设备与专用材料、零件、结构件
国际标准分类名称: 电子技术专用材料
发布日期: 2018-09-17
实施日期: 2019-01-01
发布单位/组织: 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位: 全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
页数: 7 页

适用范围

本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。
本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量,其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析,0.5%~5%定量分析。

研制信息

起草单位:

国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司

起草人:

封丽娟、李冰、陈进、夏永生、曹家凯、吕福发、阮建军、王松宪

字数: 12 千字 页数: 7 页

引用标准

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