GB/T 13840-1992
废止
GB/T 17472-2008
被代替
国家标准
GB/T 17472-2008 微电子技术用贵金属浆料规范
GB/T 17472-2008 Specification for pastes of precious metal used for microelectronics
基本信息
标准编号:
GB/T 17472-2008
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
贵金属及其合金
国际标准分类名称:
其他有色金属及其合金
发布日期:
2008-03-31
实施日期:
2008-09-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国有色金属标准化技术委员会
页数:
7 页
适用范围
本标准规定了微电子技术用贵金属浆料的产品分类、要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存。 本标准适用于烧结型及固化型微电子技术用贵金属浆料。非贵金属浆料也可参照执行。
研制信息
起草单位:
贵研铂业股份有限公司
起草人:
赵汝云、刘成、陈伏生、马晓峰、朱武勋、李晋
替代以下标准
被以下标准替代
引用标准
GB/T 6739-1996 涂膜硬度铅笔测定法
GB/T 6739-2006 色漆和清漆 铅笔法测定漆膜硬度
GB/T 6739-2022 色漆和清漆 铅笔法测定漆膜硬度
GB/T 13452.2-1992 色漆和清漆 漆膜厚度的测定
GB/T 13452.2-2008 色漆和清漆 漆膜厚度的测定
GB/T 17473.1-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定
GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定
GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
GB/T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
GB/T 17473.5-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定
GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 分辨率测定
GB/T 17473.7-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性试验
GB/T 17473.7-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 可焊性、耐焊性测定
GB/T 17473.7-2022 微电子技术用贵金属浆料测试方法 第7部分：可焊性、耐焊性测定
GB/T 19445-2004 贵金属及其合金产品的包装、标志、运输、贮存