DZ/T 0101.12-1994
现行
SJ 20714-1998
现行
行业标准-电子
SJ 20714-1998 砷化镓抛光片亚损伤层的X射线双晶衍射试验方法
SJ 20714-1998 Test method for sub-surface damege of gallium arsenide polished wafer by X-ray double crystal diffraction
价格:
$ 30
基本信息
标准编号:
SJ 20714-1998
标准类型:
行业标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
-
国际标准分类名称:
-
发布日期:
1998-03-18
实施日期:
1998-05-01
页数:
4 页
研制信息
起草单位:
电子工业部第四十六研究所
起草人:
张世敏、郝建民、段曙光
引用标准
GJB 1926-1994