SJ/T 10627-1995 废止行业标准-电子

SJ/T 10627-1995 通过测量间隙氧含量的减少表征硅片氧沉淀特性的方法

SJ/T 10627-1995 Test methods for oxygen precipitation characterization of silicon wafers by measurement of interstitial oxygen reduction

发布日期: 1995-04-22 实施日期: 1995-10-01 中国正版标准查询、采购、翻译等其他相关服务，请联系我们

价格: $ 30

标准编号: SJ/T 10627-1995

标准类型: 行业标准

标准状态: 废止

is_force_gb: no

中国标准分类名称: 电子设备与专用材料、零件、结构件

国际标准分类名称: 金属材料试验

发布日期: 1995-04-22

实施日期: 1995-10-01

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