GB/T 4855-1984
废止
GB/T 42838-2023
现行
国家标准
GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
GB/T 42838-2023 Semiconductor integrated circuits—Measuring method of Holzer circuit
基本信息
标准编号:
GB/T 42838-2023
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2023-08-06
实施日期:
2023-12-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
13 页
适用范围
本文件规定了半导体集成电路霍尔电路（以下称为器件）电特性测试方法。本文件适用于半导体集成电路霍尔电路电特性的测试。
研制信息
起草单位:
中国电子技术标准化研究院、南京中旭电子科技有限公司、合肥美菱物联科技有限公司、北京微电子技术研究所、东莞市国梦电机有限公司
起草人:
尹航、刘芳、何万海、唐食明、张帆、刘德广