GB/T 4855-1984
废止
GB/T 14620-1993
被代替
国家标准
GB/T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
GB/T 14620-1993 Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
基本信息
标准编号:
GB/T 14620-1993
标准类型:
国家级标准
标准状态:
被代替
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
-
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
1993-09-03
实施日期:
1993-12-01
发布单位/组织:
国家技术监督局
页数:
6 页
研制信息
起草单位:
国营七九九厂
起草人:
王秀琳、王玉功
被以下标准替代
引用标准
GB 5592
GB 9531
GB/T 1031-1995 表面粗糙度 参数及其数值
GB/T 1031-2009 产品几何技术规范(GPS) 表面结构 轮廓法 表面粗糙度参数及其数值
GB/T 1958-2004 产品几何量技术规范(GPS) 形状和位置公差 检测规定
GB/T 1958-2017 产品几何技术规范(GPS)几何公差 检测与验证
GB/T 2413-1981 压电陶瓷材料体积密度测量方法
GB/T 2828.1-2003 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
GB/T 2828.2-2008 计数抽样检验程序 第2部分：按极限质量(LQ)检索的孤立批检验抽样方案
GB/T 2828.3-2008 计数抽样检验程序 第3部分：跳批抽样程序
GB/T 2828.4-2008 计数抽样检验程序 第4部分：声称质量水平的评定程序
GB/T 2828.5-2011 计数抽样检验程序 第5部分：按接收质量限(AQL)检索的逐批序贯抽样检验系统
GB/T 2828.10-2010 计数抽样检验程序 第10部分：GB/T 2828计数抽样检验系列标准导则
GB/T 2828.11-2008 计数抽样检验程序 第11部分：小总体声称质量水平的评定程序
GB/T 2829-2002 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)
GB/T 5593-1996 电子元器件结构陶瓷材料
GB/T 5593-2015 电子元器件结构陶瓷材料
GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分：平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法
GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法
GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
GB/T 5598-1985 氧化铍瓷导热系数测定方法
GB/T 5598-2015 氧化铍瓷导热系数测定方法
GB/T 2829-2025 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)