GB/T 4855-1984
废止
GB/T 43063-2023
现行
国家标准
GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法
GB/T 43063-2023 Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
基本信息
标准编号:
GB/T 43063-2023
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
微电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2023-09-07
实施日期:
2024-01-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
中华人民共和国工业和信息化部
页数:
32 页
适用范围
本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、面阵和时间延迟积分（TDI)CMOS图像传感器（以下简称器件）参数及其测试方法。本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和TDI器件参数测试。
研制信息
起草单位:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所、重庆光电技术研究所、天津大学、长春精测光电技术有限公司、中国电子技术标准化研究院、深圳佑驾创新科技有限公司
起草人:
李俊霖、张涛、兰太吉、杨永强、赵宇、聂真威、韩冰、金辉、马洪涛、卢岩、徐江涛、刘昌举、唐延甫、聂凯明、李金、高志远、马悦、刘国清、王琪、刘秀娟