GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 4589.1-2006
现行
国家标准
GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
GB/T 4589.1-2006 Semiconductor devices—Part 10:Generic specification for discrete devices and integrated circuits
基本信息
标准编号:
GB/T 4589.1-2006
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2006-10-10
实施日期:
2007-02-01
发布单位/组织:
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会
页数:
34 页
适用范围
本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。 本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。 本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则： ——电特性测试方法； ——气候和机械试验； ——耐久性试验。 注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、族规范和空白详细规范时，必须用这些规范来补充本规范
研制信息
起草单位:
中国电子技术标准化研究所(CESI)
起草人:
罗发明、陈裕昆、金毓铨
替代以下标准
GB/T 4589.1-1989
采用标准
IEC 60747-10:1991