GB/T 4855-1984
废止
T/CIE 155-2023
现行
团体标准
T/CIE 155-2023 非易失性相变存储器电性能测试方法
T/CIE 155-2023 Non-volatile phase-change memory electrical performance testing method
价格:
$ 41.00
基本信息
标准编号:
T/CIE 155-2023
标准类型:
团体标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体集成电路
国际标准分类名称:
集成电路、微电子学
发布日期:
2023-03-20
实施日期:
2023-03-20
发布单位/组织:
中国电子学会
归口单位:
中国电子学会
页数:
28 页
适用范围
本文件规定了相变存储器件单元的电性能测试方法，分为器件性能测试和器件可靠性测试，器件性能测试包括电流电压特性、存储窗口、置位时间、置位电压、复位时间、复位电压、功耗；器件可靠性测试包括耐久和数据保持时间。本文件适用于相变存储器件单元（以下简称器件）。
研制信息
起草单位:
华中科技大学、长江存储科技有限责任公司、中国计量科学研究院、中国电子技术标准化研究院
起草人:
缪向水、何强、童浩、程晓敏、徐明、刘峻、李硕、任玲玲、李锟