GB/T 14264-1993
被代替
GB/Z 107-2025
现行
国家标准
GB/Z 107-2025 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估
GB/Z 107-2025 Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
基本信息
标准编号:
GB/Z 107-2025
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2025-12-03
实施日期:
1970-01-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
页数:
16 页
适用范围
本文件提供了一种性能评估存储单元的设计技术，以及使用该性能评估存储单元进行退化水平评估的方法。
本文件适用于半导体器件的退化状态监测和退化水平评估。评估半导体器件的退化水平，有助于提升系统可靠性。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、西安卫光科技有限公司、无锡市晶源微电子股份有限公司
起草人:
万永康、何静、虞勇坚、季伟伟、宋国栋、帅喆、凌勇、印琴、张凯虹、李锟、贺致远、李德建、李飞、常婷婷、苏卡
采用标准
IEC TR 63133:2017