GB/T 10406.1-1989
废止
DB51/T 3207-2024
现行
四川省地方标准
DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范
DB51/T 3207-2024 Microwave Probe Application Specification for Integrated Circuit Test
基本信息
标准编号:
DB51/T 3207-2024
标准类型:
地方标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
通用电子测量仪器设备及系统
国际标准分类名称:
电学、磁学、电和磁的测量
发布日期:
2024-12-03
实施日期:
2024-12-29
发布单位/组织:
四川省市场监督管理局
归口单位:
四川省经济和信息化厅
适用范围
本文件规定了集成电路测试用微波探针（以下简称“探针”）的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。 本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第九研究所
起草人:
刘福涵、冯楠轩、王慧丽、张芦、高春燕、丁敬垒、李晓宇、张志红、高晓琴、肖佳琪