DZ/T 0101.12-1994
现行
SJ 21343-2018
现行
行业标准-电子
SJ 21343-2018 微波元器件低温环境下S参数测试方法
SJ 21343-2018 Measuring methods for microwave components and devices's scattering parameter at cryogenic temperature
价格:
$ 30
基本信息
标准编号:
SJ 21343-2018
标准类型:
行业标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
-
国际标准分类名称:
-
发布日期:
2018-01-18
实施日期:
2018-05-01
归口单位:
工业和信息化部电子第四研究院
页数:
6 页
适用范围
本标准规定了微波元器件低温环境下S参数的测试方法。本标准适用手微波元器件(包括放大器芯片、场效应晶体管、片式电容、片式电感、片式电阻）低温环境下的S参数测试
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十六研究所
起草人:
何川、王自力、纪斌、吴志华
引用标准
GJB 360B-2009