GB/T 3656-1983
Replaced
GB/T 4326-2025
Active
National standards
GB/T 4326-2025 Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
GB/T 4326-2025 Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
Basic Information
Standard Code:
GB/T 4326-2025
Standard Type:
National standards
Standard Status:
Active
is_force_gb:
no
CCS Name:
Analysis methods for semi-metallic and semiconductor materials
ICS Name:
\nMetal material testing
Publish Date:
2025-10-31
Implement Date:
2026-05-01
Publisher:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
Technical Committee:
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC 243)
Pages:
16 pages
Scope
本文件描述了非本征半导体单晶材料霍尔迁移率和霍尔系数的测量方法。
Development Information
Drafting Units:
有研国晶辉新材料有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第四十六研究所、广东先导微电子科技有限公司、中国科学院半导体研究所、晶澳太阳能科技股份有限公司、大庆溢泰半导体材料有限公司、深圳大学
Drafting Persons:
林泉、王博、马远飞、李素青、王阳、刘国龙、周铁军、王宇、黄文文、王金灵、刘京明、韩庆辉、赵中阳、胡世鹏、莫杰、朱晨阳
Replace the following standards
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