GB/T 4937.34-2024 Active National standards

GB/T 4937.34-2024 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 34: Power cycling

Publish Date: 2024-03-15 Implement Date: 2024-07-01 For services related to genuine standard inquiry, procurement, translation, and other related services in China, please Contact Us

Basic Information

Standard Code: GB/T 4937.34-2024

Standard Type: National standards

Standard Status: Active

is_force_gb: no

CCS Name: Semiconductor discrete devices

ICS Name: Integrated Components of Semiconductor Devices

Publish Date: 2024-03-15

Implement Date: 2024-07-01

Publisher: 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

Technical Committee: 中华人民共和国工业和信息化部

Pages: 16 pages

Scope

本文件描述了一种确定半导体器件对热应力和机械应力耐受能力的方法，通过对器件内部芯片和连接结构施加循环耗散功率来实现。试验时，周期性施加和移除正向偏置（负载电流)，使其温度快速变化。本试验是模拟电力电子的典型应用，也是对高温工作寿命（见IEC 60749-23)的补充。其失效机理可能不同于空气对空气温度循环试验及双液槽法快速温变试验。本试验会导致损伤，是破坏性试验。