GB/T 14264-1993
被代替
GB/T 4937.34-2024
现行
国家标准
GB/T 4937.34-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分：功率循环
GB/T 4937.34-2024 Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 34: Power cycling
基本信息
标准编号:
GB/T 4937.34-2024
标准类型:
国家级标准
标准状态:
现行
is_force_gb:
no
中国标准分类名称:
半导体分立器件
国际标准分类名称:
半导体器分立件综合
发布日期:
2024-03-15
实施日期:
2024-07-01
发布单位/组织:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
归口单位:
中华人民共和国工业和信息化部
页数:
16 页
适用范围
本文件描述了一种确定半导体器件对热应力和机械应力耐受能力的方法，通过对器件内部芯片和连接结构施加循环耗散功率来实现。试验时，周期性施加和移除正向偏置（负载电流)，使其温度快速变化。本试验是模拟电力电子的典型应用，也是对高温工作寿命（见IEC 60749-23)的补充。其失效机理可能不同于空气对空气温度循环试验及双液槽法快速温变试验。本试验会导致损伤，是破坏性试验。
研制信息
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:
张艳杰、崔万国、裴选
同系列标准
引用标准
GB/T 4023-2015 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
GB/T 15291-2015 半导体器件 第6部分：晶闸管
IEC 60747-1:2006
IEC 60749-3
采用标准
IEC 60749-34:2010