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GB/T 20724-2006
GB/T 20724-2006 Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
简介
本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10－9 m～0.1×10-3 m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
通用商品信息
| 委员会 | 全国微束分析标准化技术委员会 |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 被代替 |
| 标准编号 | GB/T 20724-2006 |
| CCS | 电化学、热化学、光学式分析仪器 |
| ICS | 有关分析化学的其他标准 |
| 实施日期 | 2007-08-01 |
价格
$ 36
小计
$ 36
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 36