DB51/T 3207-2024
现行
DB51/T 3207-2024 集成电路测试用微波探针应用规范
本文件规定了集成电路测试用微波探针(以下简称“探针”)的分类、应用要求、故障判定、推荐指数、维护需求等。 本文件适用于微波集成电路中测试微波探针的选用。