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GB/T 42969-2023 现行
GB/T 42969-2023 Displacement damage test method for components
简介
本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。
通用商品信息
| 委员会 | 全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
|---|---|
| 文献类型 | 国家标准 |
| 发布单位 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
| 标准状态 | 现行 |
| 标准编号 | GB/T 42969-2023 |
| CCS | 半导体集成电路 |
| ICS | 集成电路、微电子学 |
| 实施日期 | 2024-01-01 |
价格
$ 50
小计
$ 50
税费
$ 0.00
订单总额（含税）
$ 50